雙面單晶硅電池在正反兩面都可以接受光照，因此在太陽(yáng)能的利用效率上較傳統(tǒng)的單面電池具有諸多方面的優(yōu)點(diǎn)，雙面晶硅電池技術(shù)脫穎而出，占據(jù)太陽(yáng)能電池的主導(dǎo)地位。
雙面 PERC 電池背面PID會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面 PERC 太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評(píng)估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的 PID 測(cè)試方法，需要在高壓測(cè)試上附加光照。此外，還需要在測(cè)試方案中加入恢復(fù)步驟來(lái)將可逆 PID-p 與不可逆 PID-c 造成損傷的區(qū)分開(kāi)來(lái)。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的貢獻(xiàn)敏感地依賴(lài)于所研究的太陽(yáng)能電池。因此，在雙面 PERC 電池的 PID 測(cè)試方案中需包括 PID 高壓期間的附加光照和恢復(fù)步驟。
相對(duì)于每個(gè)單獨(dú)模塊的初始狀態(tài)，背面Isc 值的變化。所有 I–V 曲線(xiàn)，即PID和恢復(fù)前后，
在 1000wm-2 強(qiáng)度 （1 個(gè) 太 陽(yáng) ） 和100wm-2（0.1 個(gè)太陽(yáng)）下測(cè)量。
比較 1 個(gè)太陽(yáng)和0.1 個(gè)太陽(yáng)的 I–V 測(cè)量，可以觀察到，這兩種方法之間有很強(qiáng)的數(shù)量相關(guān)性。觀察到的參數(shù)變化與用于 I–V 測(cè)量的光照強(qiáng)度無(wú)關(guān)。
采用 0.1 太陽(yáng)光源的測(cè)試裝置可同樣適用于 PID 階段和表征階段。A （優(yōu)化電池）模塊和 S（標(biāo)準(zhǔn)電池） 模塊之間的另一個(gè)顯著區(qū)別是恢復(fù)行為。對(duì)于 A 模塊，Isc 值在恢復(fù)步驟中幾乎完全恢復(fù)（上圖右中的黑色和紅色條）。這意味著，所觀察到的 A 模塊背面的衰退大部分是可逆的，因此與PID-p 有關(guān)。與此相反，S 模塊在恢復(fù)階段僅顯示很小的 Isc 參數(shù)的變化。因此，在這種情況下，PID 幾乎是完全不可逆的，與 PID-c 有關(guān)。
綜上所述，電位誘導(dǎo)衰退（PID）對(duì)雙面太陽(yáng)能電池的背面有很大的影響。有兩種不同的PID 機(jī)制， 可逆極化相關(guān) PID-p 和不可逆腐蝕相關(guān) PID-c。
一個(gè)PID測(cè)試與4小時(shí)總測(cè)試時(shí)間適合于評(píng)估微型模塊的背面PID靈敏度以及區(qū)分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。為此，PID 測(cè)試流程需要滿(mǎn)足兩個(gè)條件：第一，測(cè)試過(guò)程同時(shí)需要實(shí)施光照，以防止 PID 結(jié)果的過(guò)高或過(guò)低估計(jì)。第二，需要一個(gè)恢復(fù)步驟來(lái)區(qū)分 PID-c 和 PID-p。雖然 PID-p 敏感單元可以通過(guò)在光伏電站施加反向電壓來(lái)恢復(fù)，對(duì) PID-c 敏感的太陽(yáng)能電池將遭受永遠(yuǎn)不可逆的功率損失。因此，我們需要一種能夠測(cè)試雙面電池PID的相應(yīng)設(shè)備，結(jié)合所需的高壓測(cè)試條件和原位 PID 的跟蹤技術(shù)，滿(mǎn)足以上各種實(shí)驗(yàn)條件的需求。
弗萊貝格儀器與德國(guó)Fraunhofer CSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應(yīng)用的臺(tái)式太陽(yáng)能電池和微型模塊的電勢(shì)誘導(dǎo)衰退控制的測(cè)量解決方案。
• 根據(jù)IEC 62804-TS標(biāo)準(zhǔn)方法
• 易于使用的臺(tái)式設(shè)備
• 夠測(cè)量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
• 無(wú)需氣候室
• 不需要電池層壓
• 測(cè)量速度：4小時(shí)(一般)
• 可測(cè)量參數(shù)：分流電阻、功率損失、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
• 太陽(yáng)能電池可以通過(guò)EL等進(jìn)行研究
• 基于IP的系統(tǒng)允許在世界任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持
PIDcon bofacial臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀