PIDcon bifacial 臺(tái)式潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀

- 根據(jù)IEC 62804-TS標(biāo)準(zhǔn)方法
易于使用的臺(tái)式設(shè)備
能夠測(cè)量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
無(wú)需氣候室
不需要電池層壓
測(cè)量速度:小時(shí)到天
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
太陽(yáng)能電池可以通過(guò)EL等進(jìn)行研究
基于IP的系統(tǒng)允許在世界任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持